Bettersize2000



雙鏡頭雷射粒徑分析儀

Bettersize2000雷射粒徑分析儀是一種採用雙鏡頭技術的一體化粒徑分析儀。它的散射光發生與偵測系統是由一個大功率光纖半導體雷射器、樣品池、兩個高精度的進口透鏡組和兩組光電探測器陣列組成。此光學系統能在單光束狀態下使前向和後向散射光信號都能被同時有效接收,同時高精度透鏡組保證了即使是很微弱的散射光信號都能有效地彙聚到偵測器上,使儀器的量程、重複性、準確性和解析度等主要指標都達到了最高水準。


儀器特點

Bettersize2000在結構上經由巧妙的設計將測量系統與循環分散系統融為一體,結構更加緊湊,也同時縮短了管路及儀器體積、提高了分析效率,更方便維護與保養。

 

Bettersize2000具有自動測試、自動對中、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗等特殊功能,這種智慧化的設計不僅簡化了操作,還減少了人為因素對測試結果的影響,進一步提高了重複性、準確性和解析度。該儀器特別適合大企業、大學院校之研究使用,可用於粉體品質控制、生產技術控制、粉體應用研究、新粉體材料研究之用。

 

儀器規格

分析範圍:濕式分析0.02-2600μm

測量原理:Mie theory

光路系統:雙鏡頭光路設計

雷射光功率:10mW/635nm

偵測器數目:90個

重複性誤差: ≤0.5%

符合方法:ISO13320

 

微米級分析數據


重複性測試

 

應用領域

各類金屬氧化物、陶瓷粉體、金屬粉、電池材料、水泥、醫藥等