Bettersize3000Plus



一機兩用的雷射粒徑分析儀

Bettersize3000plu雷射影像粒徑粒形分析儀是一種雷射+影像二合一的粒徑粒形分析系統。其雷射散射系統為雙鏡頭斜入射光學系統,成像系統為動態雙路遠心顯微成像系統,可同步進行粒徑和顆粒形狀的分析。


儀器特點

雙鏡頭斜入射光學系統是由大功率泵浦偏振雷射器、進口鏡頭組、石英樣品池和全角度光電探測器陣列組成。由於採用了高性能的鏡頭和獨特的雷射斜入射結構,在單光束條件下實現了全角度散射光信號的接收此將同時實現了對奈米、微米等級甚至毫米級樣品的準確粒徑分析,而本儀器具有超強分辨單峰、雙峰和多峰樣品的能力。同時,該儀器還具有樣品折射率分析能力、自動對中技術、防乾燒超音波分散技術、SOP技術、大功率短波長偏振光技術等,確保了數據的重複性、準確性和分辨力。

 

動態雙路遠心顯微成像系統並聯在雷射散射系統中,可隨時拍攝流動中的顆粒圖像並同時進行顆粒形狀分析,在得到粒徑分佈的同時,還能同時得到圓形度、長徑比、粗糙度等粒形參數。更重要的是,這個顯微成像系統能準確捕捉到樣品中的最大顆粒,實現了D100的有效測量。

 

Bettersize3000plu雷射影像粒徑粒形分析儀還具有自動進排水、自動消除氣泡、自動清洗技術、顆粒圖像快速識別技術、樣品複配濃度技術等,適合各大企業、大學院校研究院所等需求。

 

儀器規格

分析範圍:0.01-3500μm

測量原理:Mie theory

光路系統:斜入射雙鏡頭光路系統

雷射光功率:10mW/532nm

偵測器數目:96個

重複性誤差: ≤0.5%

符合方法:ISO13320+ISO13322

影像分析範圍:2-3500um

影像功能分析項目:粒徑分布、最大粒徑、長徑比、真圓度等

 

次微米級分析數據

 

微米級分析數據


重複性測試

 

應用領域

各類金屬氧化物、陶瓷粉體、金屬粉、電池材料、水泥、醫藥等