SediGraph III plus



全自動Χ-Ray沉降式粒徑分析儀

SediGraph使用沉降法分析溶液中不同粒徑的固體顆粒。經由對X-ray的吸收測量可以直接檢測固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和黏度的液體中的沉降,再套用Stoke方程式來計算顆粒的等效球體直徑。而報告中的粒徑就是與樣品具有相同沉降速度等效球體的直徑。


SediGraph III plus特點

  • 分析範圍:0.1~300μm。
  • 高精度X-ray tube保固(7年)。
  • 最佳化泵浦循環系統,確保快速分析和易於維護。
  • 降低噪音,提供更加安靜的工作環境。
  • 維護提醒裝置,根據總分析、使用次數,提醒操作者進行定期維護。
  • 可提供自動進樣器,實現長時間自動分析的需求。
  • 電腦控制混合室溫度,提高測試可重複性。
  • 多功能和互動式報告系統,可提供多種類型的報告,如顆粒沉降速度和粒徑。

應用領域
適合於各種無機材料顆粒大小的分析研究,尤其是非金屬礦物。
例如:高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析。為高嶺土,重鈣,輕鈣、碳酸鈣等樣品之粒徑的標準分析儀器。

SediGraph III plus規格