沉降式粒徑分析儀
SediGraph III plus
全自動Χ-Ray沉降式粒徑分析儀
SediGraph使用沉降法分析溶液中不同粒徑的固體顆粒。經由對X-ray的吸收測量可以直接檢測固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和黏度的液體中的沉降，再套用Stoke方程式來計算顆粒的等效球體直徑。而報告中的粒徑就是與樣品具有相同沉降速度等效球體的直徑。
SediGraph III plus特點
· 分析範圍：0.1~300μm。
· 高精度X-ray tube保固（7年）。
· 最佳化泵浦循環系統，確保快速分析和易於維護。
· 降低噪音，提供更加安靜的工作環境。
· 維護提醒裝置，根據總分析、使用次數，提醒操作者進行定期維護。
· 可提供自動進樣器，實現長時間自動分析的需求。
· 電腦控制混合室溫度，提高測試可重複性。
· 多功能和互動式報告系統，可提供多種類型的報告，如顆粒沉降速度和粒徑。
應用領域
適合於各種無機材料顆粒大小的分析研究，尤其是非金屬礦物。
例如：高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析。為高嶺土，重鈣，輕鈣、碳酸鈣等樣品之粒徑的標準分析儀器。
SediGraph III plus規格
